测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
82mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/100重复精度
2.5um总放大倍率
18~195X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.5um测量精度
2.5+L/200重复精度
2.5um总放大倍率
25.2~158.4X物方视场
8.1~1.3mm工作距离
90mm光栅尺解析度
0.1um测量精度
重复精度
总放大倍率
物方视场
工作距离
光栅尺解析度
新闻资讯
News时间:06-30 2023 来自:祥宇精密
在现代制造业中,表面粗糙度和形状的准确测量对于产品质量控制至关重要。测长仪设备是一种常用的工具,可以帮助我们实现这一目标。测长仪设备通过接触或非接触方式,对物体表面进行扫描和测量,从而获取表面粗糙度和形状信息。本文将介绍测长仪设备的原理和操作方法,并探讨其在工业领域的应用。
1. 表面粗糙度测量
表面粗糙度是指物体表面微小不规则度的特征,通常通过Ra值来表示。测长仪设备可以利用不同的传感器和扫描技术对表面进行测量,并生成数值化的粗糙度参数。常见的测量方法包括激光干涉法、白光干涉法和电容式传感器等。其中,激光干涉法利用激光束与被测表面反射产生的干涉图案,通过分析干涉图案的变化来计算表面的粗糙度。白光干涉法则利用不同波长的光在表面产生干涉条纹,通过分析干涉条纹的形态来得出粗糙度参数。
2. 形状测量
除了表面粗糙度,测长仪设备还可以用于物体形状的测量。形状测量通常需要使用三维测量技术,以获取物体的高度、宽度和深度等参数。常见的形状测量方法包括激光三角法、结构光扫描和投影仪等。其中,激光三角法通过测量激光束与物体表面的反射角度来计算物体的高度和深度。结构光扫描则利用投射特殊编码的光斑,通过相机对光斑的变形进行观察和分析,从而得到物体的三维形状信息。
3. 操作方法
使用测长仪设备进行表面粗糙度和形状测量需要注意以下几点:
- 选择合适的传感器和扫描技术,根据被测对象的特点和测量要求进行选择。
- 对被测对象进行准备,清洁表面,并确保被测对象的固定与稳定。
- 进行校准,确保测长仪设备的精度和准确性。
- 使用合适的测量参数,根据具体要求设置测量范围、分辨率等参数。
- 进行测量操作,按照设备操作手册或指导进行扫描和数据采集。
- 分析和处理测量结果,生成表面粗糙度和形状的数值化参数。
- 进行结果验证和评估,与标准规范进行比对,并进行必要的调整和修正。
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